ATE DataLinker:芯片测试数据可视化及分析软件。支持ATE量产程序开发过程中的工程分析、数据交底、交付评审等。
DataLinker System(DLS):芯片量产测试数据监控系统。芯片全生命周期内的数据监控,有效进行产品生命周期管理并提高产品质量。
Easy Conversion:ATE Pattern Conversion工具集,支持STIL,WGL等EDA pattern文件转换到93K等ATE平台。
配合工业4.0,协助客户实现定制软件解决方案。
实验室仪器集成,一键测试
封测厂海量数据集中式管理系统
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